Oportunidade de bolsa de pós-doutorado no Centro de Tecnologia em Nanotubos de Carbono (CTNanotubos).


O Centro de Tecnologia em Nanotubos de Carbono (CTNanotubos) está realizando um processo de seleção para bolsista de pós-Doutorado na área de Caracterização. O foco do CTNanotubos é o desenvolvimento tecnológico – de produtos, processos e serviços – a partir dos naotubos de carbono, material de destacada importância estratégica para a competitividade de múltiplas indústrias. A visão do CTNanotubos é servir como plataforma para a contínua geração de sociedades empresárias, a partir da transferência de tecnologia.

Detalhes sobre o processo:

– Área de atuação: Caracterização
– Regime: Bolsista Pós-Doutorado
– Pré-requisito: Doutorado
– Valor da Bolsa: R$ 4.176,00
– Vigência: 36 meses

As técnicas a serem utilizadas inicialmente são:

– Espectroscopias ópticas (Raman, IR, UV-vis)
– Microscopia eletrônica de varredura (MEV)
– Microscopia de força atômica (AFM)
– Análise termogravimétrica (TGA)
– Difração de raios X

Procuramos por profissionais com doutoramento completo que possuam experiência prévia em pelo menos três das técnicas descritas acima (não necessariamente especialistas). As funções a serem exercidas pelo profissional são:

– Realização de ensaios e análises
– Confecção de relatórios
– Confecção de projetos de pesquisa
– Acompanhamento e atuação em em órgãos relacionados à padronização (ABNT, ISO, VAMAS, NANOREG, outros).
– Atuação junto ao INMETRO para processos de acreditação.

Os interessados devem enviar um email para cancado@fisica.ufmg.br, contendo uma breve carta de apresentação (máximo de duas páginas) e link para o CV Lattes. A data limite para a inscrição é 20/07/2015. Os candidatos pré-selecionados serão convidados para uma entrevista junto à Coordenação do CT-Nanotubos. Previsão de contratação para agosto/2015.

XIII Encontro da SBPMat: palestras técnicas dos patrocinadores.


Palestrante: Shimadzu/Tescan.

Tema: Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons e Detector TOF SIMS.

Resumo: O objetivo desta palestra é apresentar uma nova técnica de análise química, aplicada na pesquisa e desenvolvimento, voltado a detecção de elementos desde H, com resolução lateral e de profundidade manométrica e excelentes limites de detecção. Esta técnica utiliza o detector TOF SIMS acoplado a um canhão de íons.

Quando: 29 de setembro (segunda-feira), das 13:30 às 14:00 horas.

Onde: no salão plenário do Centro de Convenções de João Pessoa.

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Palestrantes: Mauro Porcu e Daniel Phifer (FEI).

Tema: Preparação de amostras com DualBeam™  de última geração e análise por MET para ciência de materiais.

Resumo: Site specific sample preparation is becoming essential for advanced material science as innovative workflows have been developed to enable atomic TEM resolution. The DualBeam-TEM workflow saves time and offers possibilities for analysis of specific areas with optimized orientation. Low voltage FIB cleaning and advanced manipulation allow lifting out sampled from bulk substrates and thinning with little to no significant damage. When coupled with the new FEI TEMs, it is possible to capture better compositional information from both traditional TEM thin sections and cylindrical “pillar TEM samples”. TEM EDS has advanced so much and EDS tomography is routinely performed with the new EDS geometry and fast data processing. Atomic material characterization thus highly benefits from newer DualBeam-TEM-sample-preparation-methodologies.

Quando: 30 de setembro (terça-feira), das 13:30 às 14:00 horas.

Onde: no salão plenário do Centro de Convenções de João Pessoa.