XIII Encontro da SBPMat: palestras técnicas dos patrocinadores.



Palestrante: Shimadzu/Tescan.

Tema: Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons e Detector TOF SIMS.

Resumo: O objetivo desta palestra é apresentar uma nova técnica de análise química, aplicada na pesquisa e desenvolvimento, voltado a detecção de elementos desde H, com resolução lateral e de profundidade manométrica e excelentes limites de detecção. Esta técnica utiliza o detector TOF SIMS acoplado a um canhão de íons.

Quando: 29 de setembro (segunda-feira), das 13:30 às 14:00 horas.

Onde: no salão plenário do Centro de Convenções de João Pessoa.

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Palestrantes: Mauro Porcu e Daniel Phifer (FEI).

Tema: Preparação de amostras com DualBeam™  de última geração e análise por MET para ciência de materiais.

Resumo: Site specific sample preparation is becoming essential for advanced material science as innovative workflows have been developed to enable atomic TEM resolution. The DualBeam-TEM workflow saves time and offers possibilities for analysis of specific areas with optimized orientation. Low voltage FIB cleaning and advanced manipulation allow lifting out sampled from bulk substrates and thinning with little to no significant damage. When coupled with the new FEI TEMs, it is possible to capture better compositional information from both traditional TEM thin sections and cylindrical “pillar TEM samples”. TEM EDS has advanced so much and EDS tomography is routinely performed with the new EDS geometry and fast data processing. Atomic material characterization thus highly benefits from newer DualBeam-TEM-sample-preparation-methodologies.

Quando: 30 de setembro (terça-feira), das 13:30 às 14:00 horas.

Onde: no salão plenário do Centro de Convenções de João Pessoa.


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