Lives &Webinars


sbpmat-Lives-logo_1500pxThe Brazilian Materials Research Society (B-MRS/ SBPMat) is promoting a series of webinars on research and teaching techniques and instruments, focused on Materials Science and Engineering and related areas.

Free of charge, the webinars will take place throughout the months of June, July and August this year, and will be given in Portuguese or English, depending on the webinar, by professionals from B-MRS partner companies, specialists in these techniques.

The online seminars will be held simultaneously on the B-MRS Zoom platform and the B-MRS Facebook (https://www.facebook.com/SBPMat/).

Registration for all webinars is now open.

Attention: In this webinar cycle, for operational reasons, there will be NO certificates of participation.


How to register

  1. Choose the webinars you are interested in, below.
  2. Click on the registration link for each webinar you want to participate in.
  3. Fill in the short form.
  4. In the email you entered in the form, you will receive the link to participate in the Zoom webinar.
  5. On the day and time of the seminar, click on the link using your computer or mobile device and participate!
  6. If the room is full, you will be directed to the Facebook live of the webinar.

Program

June 2020

Micro-XRF aplicado a Ciências dos Materiais.

  • Quando: 09/06 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: João Fiori (Bruker).
  • Idioma: português.
  • Resumo: Este webinar visa, de maneira simples e exemplificada, apresentar uma das técnicas analíticas mais promissoras e versáteis da atualidade, a Microfluoerescência de Raios X (micro-XRF). A micro-XRF permite uma rápida e simples análise multielementar não-destrutiva de Carbono (C) a Urânio (U), com limites de detecção na ordem de ppm, nos mais variados tipos de materiais tais como metais e ligas, cerâmicas, materiais compósitos, plásticos e polímeros, filmes finos, semi e supercondutores, dentre outros. Através da técnica de micro-XRF é possível realizar análises de pequenos pontos < 20 µm e de distribuição (mapeamento) em amostras grandes sem qualquer tipo de preparação de amostra. Além disso, a técnica permite medições de espessura de camadas e estudos de domínio cristalino (mapeamento de Laue), o que amplia o campo típico de aplicação da micro-XRF e permite com que ela seja uma poderosa ferramenta de pesquisa e controle de qualidade nas mais diversas áreas.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_JiJKKBfeQDKlHB5B2bLzYA

Microscopias FTIR, Raman e Eletrônica de Transmissão para Análise de Materiais.

  • Quando: 16/06 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrantes: Luciana Pataro e Daniel Stroppa (Thermo Fisher).
  • Idioma: português.
  • Resumo: As microscopias FTIR e Raman permitem a visualização das amostras e realização de caracterização química com alta resolução, sendo usadas para a análise pontual de defeitos e falhas, assim como o mapeamento para verificar distribuição de compostos em uma amostra, em diferentes áreas de análise de materiais, polímeros, fibras, fármacos, materiais de carbono e microplásticos. A microscopia eletrônica de transmissão para análise de materiais aborda a caracterização estrutural e química de nanopartículas usando TEM, incluindo as técnicas mais relevantes para obtenção de imagens com alta resolução espacial (TEM convencional e TEM por varredura) e para análise local e mapeamento químico (EDX). Esta técnica é importante para atividades de pesquisa e desenvolvimento e controle de qualidade em diversas áreas, incluindo metalurgia, catalise e pigmentos.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_upbl2AjuQDO5RejqSt-MYw

Técnicas de magnetometria para a pesquisa em nanopartículas magnéticas.

  • Quando: 23/06 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: Igor Fier (Quantum Design).
  • Idioma: português.
  • Resumo: Neste webinar, serão discutidos conceitos relevantes da investigação científica na área sob a ótica do experimentador. Funcionamento da instrumentação, ajuste de parâmetros experimentais e montagem de amostras serão temas recorrentes ao expor técnicas como magnetometria de amostra vibrante, SQUID, susceptibilidade magnética, hipertermia magnética, bem como seus méritos e desafios. Resultados, aplicações e exemplos da literatura serão usados para ilustrar e embasar os tópicos discutidos.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_E9G1jBopQZWEwcZh1Kv5MQ

3D optical profilometry for material science applications.

  • When: June 25 (Thursday) at 11 am (Brasilia time).
  • Speaker: Nestor Costa (Analítica/Sensofar).
  • ENGLISH
  • Abstract: Sensofar profilers have the unique ability to integrate three technologies into the same system: Active Illumination Focus Variation, Confocal and Interferometry. This gives great versatility in applying metrology to a wide range of samples, such as in the field of materials science. Thin film thicknesses, tribological wear volumes or surface roughness are examples of commonly analyzed properties.
  • Registration: https://zoom.us/webinar/register/WN_cs-GvNvSS32420HmF0FRNg

Crossbeam laser – Enabling New Microscopy Workflows Through Gentle Large-Volume Material Removal. 

  • When: June 30 (Tuesday) at 11 am (Brasilia time).
  • Speaker: Antonio Casares (Zeiss).
  • ENGLISH.
  • Abstract: The LaserFIB combines an ultra-short pulsed laser, typically a femtosecond (fs) laser, and a FIB-SEM, all in one microscope. Massive material ablation by the laser allows to gain rapid access to structures buried deeply in e.g. packaged electronics or display devices. The targeted regions of interest can then be analyzed by FIB-SEM. Remarkably, sample damage or heat effects induced by the laser are minimal. Thus, the LaserFIB is attracting attention also in the field of materials engineering and characterization, e.g. for the fabrication of micromechanical testing devices with dimensions of up to millimeters or large cross sections for EBSD.
  • Registration: https://zoom.us/webinar/register/WN_-Egfi41ERdKUcpHsC9_e5Q

July 2020

Caracterização de poros e partículas e determinação da densidade de materiais cerâmicos.

  • Quando: 02/07 (quinta-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: Vanessa Farias (Anton Paar).
  • Idioma: português.
  • Resumo: A alta qualidade de produtos cerâmicos possui relação direta com a distribuição do tamanho da partícula, porosidade e densidade do material. Através das técnicas de Difração a laser, Adsorção física de gás e Picnometria a gás, é possível obter resultados altamente precisos para estas caracterizações físicas, as quais podem influenciar principalmente na resistência mecânica e tenacidade das cerâmicas.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_4pOScPhrR–epw-GY72WAQ

Aprendizagem ativa unindo metodologia de seleção de materiais e simulação em tempo real.

  • Quando: 07/07 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrantes: Carlos Andrés Olivares Garrido e Mauricio Dwek (ESSS e Ansys Granta).
  • Idioma: português.
  • Resumo: Esta apresentação é voltada para professores ligados ao ensino de materiais em cursos de Design, Ciências ou Engenharias. Abordaremos diferentes formas de ampliar o envolvimento dos alunos em processos de aprendizagem ativa usando ferramentas digitais. Para tanto, traremos exemplos de acoplamento da metodologia de seleção sistemática de materiais com simulações numéricas em tempo real. Os casos apresentados são os primeiros passos no desenvolvimento de novos recursos pedagógicos para a integração da modelagem numérica no ensino superior.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_7n4KB_HRQXaFL1jUM6NMTw

Imageamento químico e estrutural 2D/3D de alta resolução: Raman, FLIM e espectroscopia óptica aplicados a ciências dos materiais e da vida.

  • Quando: 08/07 (quarta-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrantes: João Lucas Rangel e Igor Carvalho (Horiba).
  • Idioma: português ou inglês.
  • Resumo: Técnicas de espectroscopia óptica, como Raman, AFM e FLIM, permitem uma caracterização química e estrutural em micro e nano escalas. Os materiais são ainda melhor caracterizados por essas técnicas quando são mapeados em 2D/3D; um mapa de alta resolução é adquirido, contendo todas as informações químicas e a diferenciação entre um ponto e outro. Graças ao avanço da tecnologia, essas técnicas de caracterização estão se tornando mais populares, mais rápidas e poderosas, levando a um enorme aumento no nível de compreensão das propriedades e comportamentos dos materiais.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_-dYJMFIXTkq11QXY1NdRaA

Levando a caracterização de materiais multimodal mais longe com a técnica de microscopia eletrônica de varredura com feixe de íons de Xe (Plasma FIB-SEM).

[ONLY ZOOM, NO FACEBOOK]

  • Quando: 14/07 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: Rui Eduardo Moreira (Tescan).
  • Idioma: português.
  • Resumo: Neste webinar, mostraremos as técnicas mais recentes para caracterização química e estrutural de materiais utilizando a técnica de MEV com duplo feixe, aliado a correlação direta de diversas técnicas analíticas recentes. Abordaremos aplicações práticas utilizando detectores como EDS, EBSD, TOF SIMS, RAMAN e outros, acoplados ao microscópio eletrônico com feixe de íons de Ga e íons de Xe, facilitando assim o total entendimento dos materiais em estudo.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_94493J1BTPm0rVR7FCwG3g

Espalhamento dinâmico de luz – caracterização de nanopartículas.

  • Quando: 15/07 (quarta-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrantes: Hugo Vasconcellos/ Danielle C. Silva (Instrutécnica).
  • Idioma: português.
  • Resumo: Essa técnica é bastante usada na academia e na indústria, com frequência sem um conhecimento adequado de seu embasamento teórico e de seus limites.  Existem alguns novos desenvolvimentos que conseguem superar alguns limites. Vamos fazer uma revisão da teoria e suas implicações na prática: função auto-correlação e correlação cruzada. Limites teóricos e práticos de tamanho e concentração. Quando e como é possível ultrapassar alguns desses limites. Distribuições monodispersas e polidispersas, o que significam as diferentes distribuições. A técnica se aplica à caracterização de quaisquer materiais nanoparticulados. Distribuição de tamanho. Através de sua extensão para medir potencial zeta, caracteriza também carga superficial e estabilidade de suspensões coloidais.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_RS_94kPtTTOa8h7ExOXJjw

Caracterização eletroquímica de dispositivos fotovoltaicos.

  • Quando: 21/07 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: André Guimarães (Metrohm).
  • Idioma: português.
  • Resumo: No webinar serão apresentadas diferentes opções de medidas fotovoltaicas como: medidas de fotocorrente por potencial (voltametria, polarização) para obtenção de curvas i-V, Extração de Carga, Espectroscopia de Impedância Eletroquímica (EIS), IMVS e IMPS, que permitem a caracterização completa de dispositivos fotovoltaicos, como células solares e fotocatalisadores, além de estudos dos processos de transferência de carga, e tempo de recombinação eletrônica em semicondutores.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_B11LanzHS-6FaI6Sv2n1jA

Caracterização do material da sua camada: espessura, composição química e propriedades mecânicas como dureza, elasticidade, plasticidade e adesão.

  • Quando: 22/07 (quarta-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: Danilo Bittar (Helmut Fischer).
  • Idioma: português.
  • Resumo: A correta caracterização da camada é fundamental para diversos produtos acabados. As camadas podem ter a finalidade anticorrosiva e/ou decorativa em um determinado produto. Estudar a espessura da camada, sua composição química, dureza, plasticidade, elasticidade e adesão dão ao pesquisador ou gerente de produto plena capacidade de desenvolver os seus produtos e materiais com suas camadas protetivas e/ou decorativas de maneira a cumprir os requerimentos técnicos que um determinado produto exige. Para a determinação de camadas utilizaremos Fluorescência de Raios-X (espessura e composição química), Nanoindentação (dureza, elasticidade e plasticidade) e Scratch Teste (adesão). Essas técnicas aplicadas na medição de camadas são pouquíssimo utilizadas no Brasil, com grande potencial de crescimento em especial nos segmentos como Automotivo, Aeroespacial, Petroquímico, Semicondutores, Eletrônico, Joias e metais preciosos entre outros campos industriais onde uma camada é aplicada.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_1KfPr1oSRY-6_43z-MfGyw

High-Resolution Kelvin Probe, Conductivity and Mechanical Measurements on Advanced Materials. 

  • When: July 28 (Tuesday) at 11 am (Brasilia time).
  • Speakers: Paco Martinez (CSI – Concept Scientific Instruments).
  • ENGLISH.
  • Abstract: An overview of electrical and mechanical measurements using advanced modes in Scanning Probe Microscopy will be presented. We will then move on to discuss modern high-resolution modes such as, HD-KFM, ResiScope and SoftIC, which are unique features available on the new GALAXY DUAL controller. Layers of graphene and MoS2 can only be resolved with high-sensitivity and high-resolution kelvin probe microscopy. ResiScope is a conductance technique with a wide range of 10 decades, which can easy resolve the staircase doping profile of SiC doped sample, as well as nanoparticles and complex alloys. True topography and mechanical properties on soft polymer samples like PMMA, PS, PDMS and PDES are only achieved with the soft intermittent contact mode.
  • Registration: https://zoom.us/webinar/register/WN__QwfBvqDR_afYVGrw4A5-Q

August 2020

Soluções de vácuo para pesquisa em materiais.

  • Quando: 04/08 (terça-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: Luís Almeida (Edwards Vacuum).
  • Idioma: português.
  • Resumo: Nesta palestra, abordaremos o que é vácuo e quais são as soluções de vácuo que auxiliam na realização de pesquisas em materiais. Serão apresentados equipamentos já renomados da Edwards neste mercado, mas também novidades e lançamentos muito importantes para as pesquisas relacionadas. Os equipamentos são aplicáveis a diversas linhas de pesquisa de materiais, auxiliando em processos de caracterização, analise de superfícies em escalas atômicas, simulação de atmosferas controladas e geração de vácuo em diversas escalas de pressão.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_bInL1J0nRxylOR_g0xEfwA

Not just for experts – PDF analysis in the home laboratory.

  • When: August 05 (Wednesday) at 11 am (Brasilia time).
  • Speakers: Christina Drathen and Arnt Kern (Bruker).
  • ENGLISH.
  • Abstract: Atomic pair distribution function (PDF) analysis is a powerful technique for studying the short and intermediate range structure of a wide range of materials. While the technique has gained in popularity in recent years, conventional opinion is that PDF analysis is too time-consuming – and complicated – to be done on a laboratory diffractometer. Here we show how to expand the capabilities of your diffractometer and use PDF analysis when traditional diffraction techniques fall short.
  • Registration: https://zoom.us/webinar/register/WN_2sfdwQYQTcmuk_tacIIv9A

Caracterização Elétrica de Materiais.

  • Quando: 12/08 (quarta-feira) às 11 horas (horário de Brasília).
  • Palestrante: Bruno Duarte (Keysight). Bruno Duarte é engenheiro de aplicações de RF na Keysight Technologies. Graduado em Engenharia Elétrica com ênfase em Telecomunicações pela Escola Politécnica da USP e especialista em Tecnologias e Sistemas de Informação pela UFABC. Atuou nas empresas Rede Globo, Agilent Technologies e Telefonica Global Solutions, sendo hoje responsável pelas soluções de RF, microondas e medidores de impedância na Keysight.
  • Idioma: português.
  • Resumo: A apresentação versará sobre as técnicas de caracterização elétrica de materiais em estado sólido ou líquido para a obtenção de parâmetros como permissividade elétrica, permeabilidade magnética, resistividade e condutividade superficial e volumétrica, ensaios voltamétricos, curvas IV/CV e espectroscopia de impedância.
  • Link para inscrição: https://zoom.us/webinar/register/WN_J–IzDL1TJCQuKz0lo_GiA

Instrumented Indentation Techniques on Polymers.

  • When: August 19 (Wednesday) at 2 pm (Brasilia time).
  • Speaker: Jocelyn Esparza (Nanovea).
  • ENGLISH.
  • Abstract: We will dive into the different indenters, environmental conditions and test parameter combinations that can be used to obtain various mechanical properties. These properties include: hardness, elastic modulus, creep and relaxation, stress strain, glass transition temperature (Tg), stiffness and fatigue etc.
  • Registration: https://zoom.us/webinar/register/WN_uLGhwBGTQVma3tGNdvAPJg

How Vacuum Sub-System Development Drives Innovation in Instrumentation

  • When: August 26 (Wednesday) at 11 am (Brasilia time).
  • Speaker: John M. Screech (Agilent Technologies). John has been fortunate to work for not one, but two of the world’s leading Mass Spec companies, and for the bulk of his career has helped develop Vacuum Sub-systems for the Analytical Instrumentation market. John has been with Agilent Technologies since 2011 and currently works in the Vacuum Products division as a Senior Applications Engineer. John is based in Toronto, Canada.
  • ENGLISH.
  • Abstract: With vacuum sub-systems making up a significant percentage of the size, weight, and cost of many scientific instruments, it’s no secret that vacuum sub-system co-development has played a key role in instrument developer’s quest for smaller, lower cost, highly robust devices. Vacuum technologists and suppliers have been at the forefront of these efforts to support instrument developers in reaching new heights and new markets for their products. This Webinar will review some of the quantum leaps (molecular drag pumps, multi-inlet turbo pumps, innovative fore-pump scenarios) that have enabled the ‘mainstreaming’ of previously complex scientific instruments. Presenter John Screech will lead viewers through the innovations of the early 2000s and discuss ‘incubation’ partnership in assisting the next generation of instrumentation leaders. Key Learning Objectives: Insight into key drivers of vacuum performance in instrumentation. Overview of recent vacuum innovations. Preview of vacuum for next-generation instruments.
  • Who should attend: Designers of analytical instruments. Lab scientists and technicians. Instrument support personnel.
  • Registration: https://zoom.us/webinar/register/WN_8SBxPkQPQ2-CJHAcC_HRtQ