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Simpósio N: Micro e Nanometrologia
Organizador Principal:
Nome: Carlos Achete
UFRJ - Inmetro
Endereço: Xerem
Telefone: 021 26799068
Fax: 021 26799021
E-mail:achete@metalmat.ufrj.br
Co-organizador:
Nome: Suzana Peripolli
Filiação profissional: Inmetro
Endereço: Xerem
Telefone: 021 26799021
Fax: 021 26799021
E-mail speripolli@hotmail.com
Descrição
A micro e nanometrologia tem um papel crucial na produção de novos materiais e dispositivos (na escala micro e nanométrica) com um alto grau de precisão e confiabilidade. Micro e nanometrologia envolvem não somente medidas de comprimento e tamanho, como também medidas de força, massa, propriedades elétricas e outras mais. A nanometrologia é uma parte indispensável no avanço da nanotecnologia, permitindo controle preciso das propriedades dos objetos. Para a aplicabilidade da nanometrologia é importante desenvolver e estabelecer padrões de medidas (incluindo amostras de referência) e instrumentação científica adequada, pois as técnicas de medidas desenvolvidas para materiais convencionais em muitos casos não podem ser simplesmente aplicadas em nanoestruturas. Novos fenômenos físicos aparecem quando as dimensões do sistema tendem para a escala nanométrica o que requer conhecimento e capacidade para medi-los. As principais técnicas de medição envolvem microscopias de força atômica (AFM), de varredura por tunelamento (STM), eletrônica de varredura (SEM), eletrônica de transmissão (TEM) e de feixe de íons focalizados (FIB). Além das ferramentas e técnicas de medição, é necessário um guia inquestionável de como interpretar os resultados medidos de uma perspectiva prática. A área de nanometrologia é um promissor campo de descobertas em ciência básica e visa a oferecer futuras oportunidades de novos produtos.
Atualmente, as técnicas mais comuns de microscopia eletrônica de varredura (MEV), de transmissão (MET), de transmissão e varredura e de feixe de íons (FIB) estão cada vez mais acessíveis a pesquisadores de universidades, centros de pesquisa e empresas. A combinação com outras técnicas complementares como microscopia de força atômica (AFM), microscopia de tunelamento (STM), difração e fluorescência de raios X, espectroscopia Raman, infravermelho e outras, é essencial para resolver problemas nas diversas áreas.
Temas cobertos pelo Simpósio
1. Microscopia em 3 dimensões
2. Microscopia e energia
3. Materiais de referência
4. Microscopia e o meio ambiente
5. Micro and nanometrologia
Palestrantes Convidados
Hamish L. Fraser (Ohio State University)
Horst Niehus (Inmetro/Humboldt University)
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