Simpósio L: Microscopia Eletrônica de Alta Resolução
Organizador Principal:
Nome: Antonio Jose Ramirez
Filiação profissional: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron - LNLS
Endereço: Rua Giuseppe Máximo Scolfaro, 10.000, CP 6192, Campinas, SP.
Telefone: 19 – 3512.1041
E-mail: ramirez@lnls.br
Co-organizadores:
Nome: Edson Roberto Leite
Filiação profissional: Universidade Federal de São Carlos - UFSCar
Endereço: Rodovia Washington Luís, Km 235, CP 676, São Carlos, SP.
Telefone: 16 – 33518214
E-mail: derl@power.ufscar.br
Nome: Luciano Andrey Montoro
Filiação profissional: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron - LNLS
Endereço: Rua Giuseppe Máximo Scolfaro, 10.000, CP 6192, Campinas, SP.
Telefone: 19 – 3512.1256
E-mail: lmontoro@lnls.br
Nome: Paulo F. P. Fichtner
Filiação profissional: Universidade Federal do Rio Grande do Sul - UFRGS
Endereço: Av. Bento Gonçalves, 9500, CP 15051, Porto Alegre, RS.
Telefone: 51 – 3308.9468
Fax:: 51 – 3308.9469
E-mail: paulo.fichtner@ufrgs.br
Microscopia Eletrônica de Alta Resolução é uma das técnicas fundamentais no estudo da matéria em escala atômica, de poucos nanometros à escala sub-angstron.
Descrição
As técnicas de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução, incluindo Microscopia Eletrônica de Transmissão de Alta Resolução (HRTEM), Microscopia Eletrônica de Transmissão por Varredura de Alta Resolução (HRSTEM) e Microscopia Eletrônica de Varredura de Alta Resolução (HRSEM), estão entre as mais poderosas ferramentas para caracterização de materiais em escala nanométrica e atômica e são assim indispensáveis para a nanociência e nanotecnologia. A sua possível combinação com a difração de elétrons, espectroscopias de raios x e de perda de energia dos elétrons, e análise quantitativa das imagens tornam a microscopia eletrônica uma versátil técnica de caracterização.
A Microscopia Eletrônica de Transmissão de Alta Resolução (HRTEM), Microscopia Eletrônica de Transmissão por Varredura (HRSTEM) e Microscopia Eletrônica de Varredura (HRSEM) têm sido amplamente utilizadas no estudo das propriedades morfológicas, estruturais, químicas e eletrônicas de materiais, nas escalas nanométrica a sub-angstrom. A possibilidade de obter imagens convencionais e de alta resolução junto com análises mediante difração de elétrons colocam a microscopia eletrônica entre as mais avançadas técnicas para caracterização de materiais. Aliada à espectroscopia de raios X por dispersão de energia (XEDS) e espectroscopia de perda de energia dos elétrons (EELS), a microscopia eletrônica de transmissão se converte em ferramenta versátil e abrangente para a caracterização das propriedades químicas e eletrônicas em escala nanométrica. Recentemente, um significativo desenvolvimento tem sido realizado na aplicação da HRTEM em nanotecnologia, como a implementação de experimentos in-situ para o estudo de processos dinâmicos em escala nanométrica; obtenção de imagens de campos elétricos e magnéticos por holografia; mapeamento químico quantitativo com resolução sub-nanométrica e metodologias para correção de aberrações através de hardware e/ou software para reconstrução da onda de saída, permitindo uma melhora na resolução e atingindo a escala sub-angstrom. Este simpósio envolve apresentações relacionadas a todas as áreas da microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução dedicadas à caracterização de materiais, bem como desenvolvimentos em instrumentação e software. Apresentações envolvendo a caracterização de nanomateriais por microscopia de alta resolução são especialmente bem-vindas.
Os tópicos cobertos pelo simpósio incluem:
Lista de membros do Comitê Científico
Daniel M. Ugarte – UNICAMP, (ugarte@lnls.br)
Daniela Zanchet – LNLS, (zanchet@lnls.br)
Jefferson Bettini – LNLS, (bettini@lnls.br)
Marcelo O. Orlandi – UNESP - Ilha Solteira, (orlandi@dfq.feis.unesp.br)
Monica A. Cotta – UNICAMP, (monica@ifi.unicamp.br)
Palestrantes Convidados:
Christopher John Kiely (LEHIGH)