VII Encontro da SBPMat

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- Horário das apresentações orais e de posters

Secretaria:
Aptor
7encontro@sbpmat.org.br

Simpósio L: Microscopia Eletrônica de Alta Resolução

Organizador Principal:
      Nome: Antonio Jose Ramirez
      Filiação profissional: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron - LNLS
      Endereço: Rua Giuseppe Máximo Scolfaro, 10.000, CP 6192, Campinas, SP.
      Telefone: 19 – 3512.1041
      E-mail: ramirez@lnls.br

Co-organizadores:
      Nome: Edson Roberto Leite
      Filiação profissional: Universidade Federal de São Carlos - UFSCar
      Endereço: Rodovia Washington Luís, Km 235, CP 676, São Carlos, SP.
      Telefone: 16 – 33518214
      E-mail: derl@power.ufscar.br

      Nome: Luciano Andrey Montoro
      Filiação profissional: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron - LNLS
      Endereço: Rua Giuseppe Máximo Scolfaro, 10.000, CP 6192, Campinas, SP.
      Telefone: 19 – 3512.1256
      E-mail: lmontoro@lnls.br

      Nome: Paulo F. P. Fichtner
      Filiação profissional: Universidade Federal do Rio Grande do Sul - UFRGS
      Endereço: Av. Bento Gonçalves, 9500, CP 15051, Porto Alegre, RS.
      Telefone: 51 – 3308.9468
      Fax:: 51 – 3308.9469
      E-mail: paulo.fichtner@ufrgs.br

Microscopia Eletrônica de Alta Resolução é uma das técnicas fundamentais no estudo da matéria em escala atômica, de poucos nanometros à escala sub-angstron.

Descrição

As técnicas de Microscopia Eletrônica de Alta Resolução, incluindo Microscopia Eletrônica de Transmissão de Alta Resolução (HRTEM), Microscopia Eletrônica de Transmissão por Varredura de Alta Resolução (HRSTEM) e Microscopia Eletrônica de Varredura de Alta Resolução (HRSEM), estão entre as mais poderosas ferramentas para caracterização de materiais em escala nanométrica e atômica e são assim indispensáveis para a nanociência e nanotecnologia. A sua possível combinação com a difração de elétrons, espectroscopias de raios x e de perda de energia dos elétrons, e análise quantitativa das imagens tornam a microscopia eletrônica uma versátil técnica de caracterização.

A Microscopia Eletrônica de Transmissão de Alta Resolução (HRTEM), Microscopia Eletrônica de Transmissão por Varredura (HRSTEM) e Microscopia Eletrônica de Varredura (HRSEM) têm sido amplamente utilizadas no estudo das propriedades morfológicas, estruturais, químicas e eletrônicas de materiais, nas escalas nanométrica a sub-angstrom. A possibilidade de obter imagens convencionais e de alta resolução junto com análises mediante difração de elétrons colocam a microscopia eletrônica entre as mais avançadas técnicas para caracterização de materiais. Aliada à espectroscopia de raios X por dispersão de energia (XEDS) e espectroscopia de perda de energia dos elétrons (EELS), a microscopia eletrônica de transmissão se converte em ferramenta versátil e abrangente para a caracterização das propriedades químicas e eletrônicas em escala nanométrica. Recentemente, um significativo desenvolvimento tem sido realizado na aplicação da HRTEM em nanotecnologia, como a implementação de experimentos in-situ para o estudo de processos dinâmicos em escala nanométrica; obtenção de imagens de campos elétricos e magnéticos por holografia; mapeamento químico quantitativo com resolução sub-nanométrica e metodologias para correção de aberrações através de hardware e/ou software para reconstrução da onda de saída, permitindo uma melhora na resolução e atingindo a escala sub-angstrom. Este simpósio envolve apresentações relacionadas a todas as áreas da microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução dedicadas à caracterização de materiais, bem como desenvolvimentos em instrumentação e software. Apresentações envolvendo a caracterização de nanomateriais por microscopia de alta resolução são especialmente bem-vindas.

Os tópicos cobertos pelo simpósio incluem:

Caracterização estrutural de materiais nanoestruturados por HRTEM, HRSTEM e HRSEM;
Estudo estrutural de interfaces e defeitos;
Caracterização de materiais por técnicas de nanoanálise (XEDS e EELS);
Microscopia eletrônica de transmissão quantitativa de alta resolução;
Desenvolvimentos em instrumentação e software;
Estudos in-situ;
Aplicação de metodologias de obtenção de imagens com correção de aberração esférica.

Lista de membros do Comitê Científico

Daniel M. Ugarte – UNICAMP, (ugarte@lnls.br)
Daniela Zanchet – LNLS, (zanchet@lnls.br)
Jefferson Bettini – LNLS, (bettini@lnls.br)
Marcelo O. Orlandi – UNESP - Ilha Solteira, (orlandi@dfq.feis.unesp.br)
Monica A. Cotta – UNICAMP, (monica@ifi.unicamp.br)

Palestrantes Convidados:

Christopher John Kiely (LEHIGH)
Marcelo Ornaghi Orlandi (UNESP)
Daniela Zanchet (LNLS)
Knut Urban (Ernst Ruska Centre IR-C)
Leandro Martín Socolovsky (INTECIN)

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