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Secretaria:
Aptor
7encontro@sbpmat.org.br
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Simpósio K: Microanálise
Organizador Principal:
Marcos Antonio Zen Vasconcellos
UFRGS
Av. Bento Gonçalves, 9500
Tel:
51 3308 6539
Fax: 51 3308
marcos@if.ufrgs.br
Co-organizador:
Silvio Roberto Farias Vlach
Universidade de São Paulo
Instituto de Geociências.
Rua do Lago, 562
Butantã
05508-900 - Sao Paulo, SP - Brasil
Tel: 011 3091 4092
srfvlach@usp.br
Introdução
A microanálise refere-se à identificação e quantificação de elementos ou fases em regiões micrométricas dos materiais. Neste simpósio a atenção é direcionada para aspectos instrumentais, práticos e teóricos associados às técnicas MEV/EDS/WDS, TEM/EDS, PIXE/EDS, MEV/BSE/EBSP.
Tema
A microanálise composicional quantitativa está sedimentada como importante ferramenta na caracterização de metais, cerâmicas e minerais. As características dos equipamentos usados em microanálise quantitativa (MEV, EPMA, PIXE e MET) incluem a possibilidade de imageamento em diferentes modos (SEI – secondary electron image, BEI – backscattering electron image e mapas de raios x) que tornam seu uso fortemente multidisciplinar.
A análise composicional quantitativa transforma o sinal medido (número de fótons) em concentração elementar, exigindo a consideração de vários parâmetros físicos: efeitos de frenagem dos elétrons (ou íons), absorção de raios X, excitação de fluorescência secundária. São utilizadas a seção de choque de ionização de camadas K, L e M, probabilidades de transição Coster–Kronig, taxas de fluorescência e razão de emissão relativas entre linhas. Parâmetros experimentais e condições da amostra também devem ser levados em consideração.
Programas de computador e metodologias práticas desenvolvidas para a transformação dos resultados experimentais em concentrações dos elementos ou fases nos materiais serão abordados neste simpósio. Isto inclui as técnicas de quantificação baseadas em correção de matriz e técnicas de processamento e análise de imagens (óticas ou eletrônicas). A aplicação correta destas técnicas para a solução de problemas de interesse acadêmico, principalmente nas áreas de Física, Geologia, e problemas de natureza industrial, exige o conhecimento daqueles parâmetros físicos fundamentais por parte do operador, para que avalie corretamente os resultados obtidos.
Temas atuais a serem cobertos pelo simpósio
1. Adequação de medidas microanalíticas EDS/(MET e MEV) para a quantificação de elementos;
2. Determinação de parâmetros fundamentais em micronálise com raios X e íons (seções de choque de ionização, probabilidades de transição, parâmetros de assimetria das linhas, picos de escape etc);
3. Caracterização da estrutura eletrônica de elementos puros e compostos analisando linhas de emissão de transições originadas na banda de valência;
4. Quantificação de fases a partir de imagens de Microscopia Ótica e Eletrônica (BSE/EBSP);
5. Aplicações de microanálise;
Palestrantes Convidados:
Ruth . Hinrichs (UFRGS)
Jorge . Trincavelli (UNC)
Breno Leite (Thermo Fisher)
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