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Secretaria:
Aptor
7encontro@sbpmat.org.br
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Simpósio M: Microscopia Aplicada ao Mundo Industrial (MICROMAT)
Organizador Principal:
André Luiz Pinto
Filiação profissional: Instituto Militar de Engenharia (IME)
Endereço: Praça General Tibúrcio, 80 - Urca
Telefone: 21 2546 7254
Fax: 21 2546 7049
E-mail: pinto@ime.eb.br
Co-organizador
Nome: Luiz Henrique de Almeida
Filiação profissional: COPPE/UFRJ
Endereço: Av Brigadeiro Trompowski, s/no, Bloco F, 2º Andar – Programa de Engenharia Metalúrgica e de Materiais
Telefone: 21 2562 8510
E-mail: lha@metalmat.ufrj.br
Muitas técnicas de microscopia encontram-se maduras em seu domínio pela comunidade tecnológica, sendo amplamente usadas pela indústria e em pesquisa aplicada ao segmento industrial. Neste simpósio, microscopistas que atuam nesta área são convidados a compartilhar suas experiências em ciência dos materiais.
Diversos segmentos industriais empregam técnicas de microscopia no desenvolvimento de novos materiais, otimização de materiais para determinadas aplicações, assim como para o controle de qualidade e análise de falha dos materiais. Da mesma forma, muitos pesquisadores dedicam parte de seu tempo à pesquisa aplicada de materiais que atendem, ou que podem vir a atender no futuro próximo, às complexas e crescentes demandas da indústria. Espera-se poder contar com a presença de profissionais dos meios acadêmico e industrial, de modo a promover a necessária integração e incentivar a busca conjunta pela inovação industrial. Dentre as diversas técnicas a serem abordadas, pode-se citar: Microscopia Ótica, Processamento Digital de Imagens, Microscopia Quantitativa, Microscopia Eletrônica de Varredura, Microscopia Eletrônica de Transmissão, Microscopia de Ponta de Prova e suas técnicas associadas.
Tópicos
O escopo de temas a serem cobertos pelo simpósio é bastante abrangente. Os temas a serem discutidos no simpósio incluem:
- Casos reais de análise de falha recentes
- Uso de processamento digital de imagens no controle de qualidade
- Influência da microtextura de materiais em aplicações industriais
- Controle microestrutural para a próxima geração de materiais para uso em alta temperatura
- Controle microestrutural em materiais de uso eletrônico
Palestrantes convidados
Sidnei Paciornik (PUC-Rio)
Luiz Henrique de Almeida (UFRJ)
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