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(Alexandre Dias ou Laura Bertuzzi)


 

Programa Científico

SIMPÓSIO M
TÉCNICAS AVANÇADAS DE MICROSCOPIA PARA CARACTERIZAÇÃO E MODIFICAÇÃO DE MATERIAIS

Patrocinado pela SBMM como parte do MICROMAT 2006 (10o Congresso Brasileiro de Microscopia dos Materiais) e V Reunião Anual da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais - SBPMat

O avanço das técnicas de microscopia acontece tanto na direção da melhoria contínua da resolução como da diversificação das funções e da integração de vários equipamentos em uma única plataforma. Estes avanços resultam na universalização crescente dos equipamentos de microscopia que passam a ser considerados verdadeiros nano-laboratórios. Os microscópios eletrônicos de varredura acoplados às técnicas de EDS e EBSD permitem a caracterização de diferentes materiais, levando à obtenção de informações diversas tanto sobre textura como sobre a composição dos materiais. Mais recentemente, os microscópios têm sido usados também no processamento e na modificação de materiais, bem como na fabricação in situ de novas micro e nano-estruturas. Alguns exemplos dos avanços nas técnicas de microscopia são: microscópios eletrônicos de varredura transformados em equipamentos de litografia por feixe de elétrons, AFM associada à espectroscopia micro-Raman resultando em um aumento dramático na resolução espacial devido ao fenômeno TERS (tip-enhanced Raman scattering) e microscópios FIB/SEM que possuem feixes focalizados de elétrons e íons em um único equipamento. Tais microscópios FIB/SEM permitem, além da obtenção de imagens com alta resolução e acoplamento de EDS e EBSD, modificação do material analisado e fabricação de estruturas utilizando processos induzidos por feixe de íons (corte, corrosão, deposição de metais e dielétricos).

O presente Simpósio visa estimular a discussão sobre os atuais avanços das técnicas de microscopia e suas aplicações, convidando a comunidade científica a participar por meio de contribuições relacionadas ao uso da:

  • Microscopia por Varredura de Sonda (AFM, STM, LFM, MFM, EFM, etc.) ;
  • Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM) associada a diferentes técnicas de microanálise (EDS, EBSD, FIB, STEM, etc.).

As participações serão através de apresentações orais e pôsteres de trabalhos relacionados às técnicas de microscopia aqui citadas, incluindo também os seguintes tópicos:

  • Litografia for feixe de elétrons;
  • Litografia por microscopia de força atômica;
  • Microestrutura, microtextura e mesotextura de materiais ;
  • Micro e/ou nano-manipulação.

A comissão organizadora encoraja a submissão de trabalhos tanto na área de caracterização quanto modificação dos materiais, assim como a participação de potenciais usuários de tais técnicas.


Organizadores do Simpósio


Coordenador:

Stanislav Moshkalev
UNICAMP

Vice-Coordenadora:
Carla Verissimo
CCS-UNICAMP

Comitê científico

André P. Tschiptschin (USP-SP)
Antônio C. Seabra (USP-SP)
Antônio Ramirez (LNLS)
Fernando Galembeck (UNICAMP)
Flávio Plentz (UFMG)
Hamilton de Abreu (UFC)
Luiz Paulo Mendonça Brandão (IME)
Mônica Cotta (UNICAMP)

Lista Preliminar de Palestrantes Convidados

Alice F. Bastos da Silva (Max - Planck-Institut für Eisenforschung)
Antônio C. Seabra( USP-SP)
Antonio Ramirez (LNLS)
Daniel Ugarte (LNLS)
Fernando A. Ponce (Arizona State University)
Fernando Galembeck (UNICAMP)
Flávio Plentz (UFMG)
Mônica Cotta (UNICAMP)
Pavel S. Dorozhkin (Institute of Solid State Physics, Chernogolovka – Rússia and NT-MDT Company)
Phillip E. Russell (North Carolina State University)
Rogerio Kwitko Ribeiro (CVRD - Desenvolvimento de Projetos Minerais)
Steve Reyntjens (FEI Company)

 

Artigos desse simpósio serão publicados em número especial da Revista Journal of Materials Science

Para que o manuscrito encaminhado seja analisado para publicação no número especial da revista, o código SBPMat do Abstract já aprovado nos respectivos simpósios deve ser indicado precedendo o título do artigo no manuscrito. Este código será retirado antes da publicação. O período de submissão de manuscritos estará aberto de 1o de outubro a 30 de novembro de 2006.

1) Acessar www.editorialmanager.com/jmsc/
2) Siga o indicado em "instructions for authors".
3) Certifique-se de selecionar "Brazil MRS 2006" na categoria a ser submetida.

Os editores do Journal of Materials Science (Grant Norton, Mark Aindow e Barry Carter ) estarão presentes no V Encontro da SBPMat para responder a qualquer questão.

Todos os artigos submetidos passarão pelo processo completo de revisão de acordo com os padrões da revista. Os coordenadores do simpósio receberão cópia de cada artigo submetido.

 

Copyright 2006
V Encontro da SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais