SIMPÓSIO F
ANÁLISE DE NANOESTRUTURAS E DEFEITOS CRISTALINOS POR MICROSCOPIA ELETRÔNICA

A compreensão fundamental do efeito do processamento no tamanho, morfologia, estrutura e composição de nanomateriais (partículas, tubos, bastonetes, folhas, etc.) e as nanoestuturas relacionadas é necessária para incorporar com sucesso a aplicação destes materiais na indústria. Tais variáveis e as propriedades resultantes em metais, semicondutores e cerâmicos no estado nanoestruturado são todos funções potenciais da forma de elaboração e processamento. A observação destas nanoestruturas pode ser feita através de várias técnicas, mas a microscopia eletrônica de transmissão é reconhecida como a técnica essencial para levar a efeito uma caracterização completa. O uso do MET varia desde a apreciação do tamanho e morfologia até a análise completa da composição de nanomateriais heterogêneos e seus defeitos nestas entidades. Contribuições serão incluídas neste simpósio, por um lado sobre o uso do MET para abordar cada um dos amplos desafios mencionados (tamanho, morfologia, estrutura e composição) e, por outro lado, tratará de avanços recentes na pesquisa dessas partículas em nanomateriais em outros ambientes além do vácuo, na modificação e teste destas estruturas in situ e na determinação das propriedades de ligação entre e dentro destas nanopartículas.

O simpósio se propõe, portanto, a apresentar uma ampla gama de técnicas de MET e suas aplicações em materiais nanoestruturados. Contribuições serão também bem-vindas em tópicos de especial interesse tais como:

• Aplicações de técnicas de MET na análise de nanomateriais e nanopartículas;

• Estrutura e deformação de nanoestruturas e filmes finos;

• Caracterização de interfaces e defeitos lineares;

• Caracterização de nanobiomateriais duros e macios;

• Metodologias na preparação de amostras de nanomateriais e nanoestruturas;

• Espectrocopia e técnicas analíticas aplicadas à nanoestruturas.

Palavra-chave: Nanoestruturas, nanoparticulas, nanobiomateriais, defeitos cristalinos, Interfaces, TEM, HREM, AEM, nanoanalise, nanodifração.

Organizadores do simpósio

Coordenador:
Guillermo Solórzano
guilsol@dcmm.puc-rio.br
Depto. de Ciência dos Materiais e Metalurgia, PUC-Rio

Vice-coordenador:
Barry Carter
carter@cems.umn.edu
University of Minnesota, USA

Artigos desse simpósio serão publicados em número especial da Revista Journal of Materials Science

Para que o manuscrito encaminhado seja analisado para publicação no número especial da revista, o código SBPMat do Abstract já aprovado nos respectivos simpósios deve ser indicado precedendo o título do artigo no manuscrito. Este código será retirado antes da publicação. O período de submissão de manuscritos estará aberto de 1 o de outubro a 30 de novembro de 2006.

1) Acessar www.editorialmanager.com/jmsc/
2) Siga o indicado em "instructions for authors".
3) Certifique-se de selecionar "Brazil MRS 2006" na categoria a ser submetida.

Os editores do Journal of Materials Science (Grant Norton, Mark Aindow e Barry Carter ) estarão presentes no V Encontro da SBPMat para responder a qualquer questão.

Todos os artigos submetidos passarão pelo processo completo de revisão de acordo com os padrões da revista. Os coordenadores do simpósio receberão cópia de cada artigo submetido.

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V Encontro da SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais