Inscrições abertas!
Data limite:
Submissão: 15/06
Aceite: 18/07

Minicursos

Prezados participantes do X Encontro da SBPMAT,

Durante o X Encontro da SBPMAT, será realizada a “Escola sobre técnicas de caracterização de materiais com luz síncrotron”. A escola consistirá em três minicursos sobre as técnicas XAFS, SAXS e XRD, que serão ministrados em paralelo, associados ao simpósio N. Os minicursos serão realizados de 26 a 28 de setembro, após as sessões de pôsters.
O público-alvo da escola são pesquisadores e estudantes que estejam utilizando, ou planejem utilizar as técnicas XAFS, SAXS ou XRD na sua pesquisa de tese.  As atividades da escola consistirão em aulas expositivas sobre os princípios e potencialidades das técnicas e tutorais de análise de dados, em sessões práticas com programas que representam o estado da arte para cada técnica.  
As aulas e tutoriais serão ministradas em Português. Podem se inscrever na escola pesquisadores doutores e alunos de pós-graduação, falantes de Português ou Espanhol, inscritos no X Encontro da SBPMAT. As vagas serão limitadas a cerda de 30 por minicurso. Os interessados na escola deverão realizar uma pré-inscrição, enviando uma carta de motivação ao endereço eletrônico “escolas.sbpmat2011@gmail.com”, indicando o curso que pretende participar e explicando o seu interesse em participar da escola.  Serão aceitas inscrições até o dia 16 de setembro. A seleção dos candidatos será baseada na carta de motivação e em critérios de distribuição geográfica dos participantes.  Aos selecionados será cobrada uma taxa de participação de R$ 50 para estudantes e R$100,00 para profissionais. 

Conteúdos dos minicursos 
1) Espectroscopia de absorção de raios-X (XAFS) -  Organizador: Prof. Gustavo Azevedo
O objetivo deste minicurso é oferecer uma introdução às técnicas e metodologias de análise de dados de EXAFS. O curso terá uma abordagem essencialmente prática, com ênfase na utilização do pacote de programas FEFF e IFEFFIT. No entanto, outros programas de análise também serão mencionados e suas funcionalidades e aplicações serão brevemente discutidas. O minicurso destina-se, principalmente, a estudantes de pós-graduação e jovens pesquisadores com interesse na técnica. 
O conteúdo a ser coberto inclui os seguintes tópicos:

o   Princípios da  técnica;
o   Aplicações em ciências de materiais;
o   Tutoriais: Análise da desordem em materiais amorfos; estrutura local de nanopartículas,  localização de dopantes em materiais cristalinos;

A carga-horária total do curso será de 9 horas-aula, dividas entre seminários expositivos e sessões práticas. As aulas serão ministradas pelos professores Gustavo Azevedo e Leandro Araújo, do Instituto de Física da UFRGS, Narcizo Marques Souza-Neto, do LNLS e Mark Ridgway, da Australian National University – Canberra,  Australia.

 

 2) Minicurso: Espalhamento de raios X a baixo ângulo e reflectometria de raios X – Organizador: Prof. Guinther Kellermann

O mini-curso constituir-se-á em: i) uma parte introdutória onde serão abordados os aspectos básicos da técnica de espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS) na geometria convencional,  ii) introdução à técnica de SAXS na geometria de incidência rasante (GISAXS) e na condição de ressonância (ASAXS) e iii) introdução à reflectometria de raios X (XR). A expectativa é de que o curso dê aos participantes conhecimentos básicos sobre as técnicas acima e de como elas podem auxiliar na determinação de estruturas em escala nanométrica. O mini-curso destina-se, principalmente, a estudantes de pós-graduação e jovens pesquisadores com interesse nessas técnicas.

O conteúdo será abordado em 9 horas-aula, cobrirá os seguintes tópicos:

·Introdução à técnica SAXS;  
·Introdução á técnica de reflectometria de raios X;
·Exemplos de aplicação de SAXS;
·SAXS ressonante (ASAXS); 
·Introdução à técnica de GISAXS;
·Exemplos de aplicação da técnica de GISAXS;
As aulas serão ministradas pelos professores Guinther Kellermann (UFPR) e Aldo Craievich (USP)

3) Minicurso de método de Rietveld – Organizador: Prof. Fabio Furlan
Este minicurso será dividido em seminários, demonstrações de refinamentos e práticas de análise de dados. Os seminários fornecerão informações sobre o método de Rietveld e suas aplicações, como refinamento de estrutura, análise quantitativa de fases, interpretação dos parâmetros não estruturais, e determinação da estequiometria de compostos. Os seminários serão complementados por demonstrações de refinamentos, que serão, depois, realizados pelos alunos. As práticas serão realizadas pelos alunos, para que possam fixar os conceitos de difração de raios X por policristais e cristalografia, de forma que possam aplicá-los em seus trabalhos de pós-graduação ou mesmo na indústria.
Para essa parte prática foram selecionados vários casos. O primeiro é com um suposto padrão para difração de raios X, de onde serão obtidas informações sobre o alargamento instrumental. A seguir, serão casos simples com uma fase, onde apenas a estrutura cristalina será refinada. Um desses casos é de alta orientação preferencial. Também haverá um caso de análise quantitativa de fases. No segundo dia, serão dois casos mais complexos, com alta sobreposição de picos, mas também com uma fase. No terceiro dia serão considerados os casos mais complexos, com dados de luz síncrotron com comprimento de onda na borda de absorção de um dos elementos, onde a estequiometria deverá ser determinada. Para esse caso, dois conjuntos de dados serão usados.  As aulas e tutoriais serão ministradas pelos Professores Fabio Furlan Ferreira, Carlos de Oliveira Paiva Santos e Flávio Machado de Souza Carvalho.

Horários dos minicursos
As atividades dos mini-cursos serão realizadas nas seguintes datas e horários.
Segunda-feira, 26 de setembro: 18h15 às 21h00
Terça-feira, 27 de setembro:  16h15 às 20h15
Quarta-feira, 28 de setembro: 18h15 às 21h00

Local de realização:

Os mini-cursos compartilharão o espaço físico do Centro de Eventos da UFRGS em Gramando com os simpósios do X Encontro da SBPMAT.
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