SIMPÓSIO J
II SIMPÓSIO BRASILEIRO DE MICROSCOPIA APLICADA À CIÊNCIA FORENSE (II SBMACF)

Patrocinado pela SBMM como parte do MICROMAT 2006 (X Congresso Brasileiro de Microscopia dos Materiais)

A multidisciplinaridade da investigação forense, aliada ao crescente interesse no assunto tem incentivado a inclusão de sessões dedicadas ao tema em praticamente todos os eventos de Microscopia Eletrônica no exterior. A Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise (SBMM) está incentivando o desenvolvimento de pesquisas nesse campo, promovendo a segunda edição de um evento anual dedicado ao assunto, o II SBMACF, uma iniciativa que nasceu da implantação de um programa de C&T Aplicada à Segurança Pública, cujo objetivo é estabelecer ações de cooperação e atuação integrada entre a comunidade científica e tecnológica brasileira, localizada principalmente nas universidades e centros de pesquisa, e as equipes de serviços periciais federal e estaduais.
O uso de microscopia eletrônica e técnicas associadas em perícia forense data da década de 60, quando resíduos de tiro (GSR) foram analisados por MEV/EDS. Além da análise de GSR, técnicas de microscopia óptica (convencional, luz polarizada, fluorescência, etc) e eletrônica permitem o exame de uma gama de amostras e vestígios, como por exemplo: orientação e concentração de elementos (inclusive sangue) em roupas (fibras) e objetos; detecção de resíduos metálicos em amostras de tecido, luvas cadvéricas e em ossos (casos de agressão por objeto contundente, armas de fogo, etc); análise de projéteis para busca de microvestígios, como por exemplo, vidro, permitindo a confirmação da trajetória do disparo; análise de objetos encontrados em cenas de crime com impregnações de tinta proveniente de veículos automotores, solo, etc.; análise de ranhuras e marca de percutor em estojos recolhidos em locais de crime, quando a análise por microcomparador balístico não se mostrar conclusiva; análise de números de série adulterados em armas de fogo, quando estes não puderem ser revelados através das técnicas usuais de metalografia.
As apresentações terão enfâse na análise de materiais: restauração de número de série em metais e polímeros, ranhuras e impressões em materiais metálicos e análise falha aplicada à perícia.
Serão aceitos trabalhos em todas as áreas pertinentes às ciências forenses, desde que envolvam alguma técnica de microscopia óptica ou eletrônica ou de ciência dos materiais, incluíndo:

• Balística
• Resíduos de tiro (GSR)
• Restauração de número de série em armas e chassis
• Análise falha
• Microcomparação (análise de ranhuras, impressões e deformações - “Toolmarks”)
• Meio-ambiente (solo, Madeira, poluição ambiental)
• Vestígios (fibras, pelos, tinta, vidro, etc)
• Documentos
• Incêndios e Explosivos
• Vestígios biológicos (ossos, dentes, etc)
• Bioterrorismo
  

Coordenadora:
Andrea Martiny
deiamartiny@ime.eb.br
Instituto Militar de Engenharia (IME), Rio de Janeiro, RJ

Vice-Coordenador:
André Luiz Pinto
pinto@ime.eb.br
Instituto Militar de Engenharia (IME), Rio de Janeiro, RJ

Comitê científico Adilson Pereira (ICSP) André Luiz Pinto (IME-RJ) Andrea Martiny (IME-RJ) Andrea Porto (DPTC) Ladário da Silva (Escola Naval Marinha do Brasil) Luiz Henrique de Almeida (COPPE-UFRJ) Márcia Attias (IBCCF-UFRJ) Sara Lais Lenharo (DPF)

Palestrantes Confirmados André Tschiptschin (Escola Politécnica – Dept. Engenharia Matalúrgica e de Materiais, USP) Andrea Porto Carreiro Campos (DPTC-RJ) David G. Howitt (Dept. of Chemical Engineering and Materials Science, University of California Davis, USA) Frank Bauer (Oxford Instruments, Wiesbaden, Alemanha) Horst Katterwe (BKA - Wiesbaden, Alemanha) Ladário da Silva (Escola Naval, Marinha do Brasil, Rio de Janeiro) Skip Palenik (Microtrace Scientific Inc., Elgin, Illinois, USA)

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V Encontro da SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais